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降落值測定儀與小麥損傷顆粒關(guān)系

來源: http://www.hostingz.cn  類別:實用技術(shù)  更新時間:2014-12-26  閱讀
      降落值的這個指標是一個比較更直觀的評價比損傷粒對小麥的品質(zhì)評價,它能減少人為因素對評價結(jié)果的影響,從而更加準確地反映小麥的質(zhì)量,因此實驗室應(yīng)用降落值測定儀測定的降落值可以作為小麥質(zhì)量綜合評價的有效手段。降落值可以反映損傷的程度在小麥谷物對小麥品質(zhì)的影響中,也能反映小麥顆粒本身的損害程度的損傷。
 
    降落值測定儀試驗將發(fā)霉粒分為重霉粒、輕霉粒、微霉粒3種,它們分別比完好顆粒降落值平均低253秒、198秒、66秒。顯然降落值在反映發(fā)霉程度及完好顆粒的差異是非常顯著的,同時它也反映了發(fā)霉粒對小麥最終使用價值的影響。還對除以上幾類以外的其它損傷粒進行降落值測定儀測定,它比完好顆粒降落指數(shù)平均低186秒,這與以上幾類損傷粒測定的結(jié)果相一致。
  
      凍傷顆粒也是不成熟粒,它比完好顆粒降落指數(shù)平均低197秒,這種發(fā)育不完善的顆粒內(nèi)部物質(zhì)成份有一定的差異。α-淀粉酶活性取決于水分、時間、小麥休眠程度和物質(zhì)成份的共同作用,這種顆粒不完善程度,通過降落值測定儀測定的降落值表現(xiàn)出來,這兩者之間也存在一定的聯(lián)系。
  
       損傷粒與完好顆粒共同存在于整批小麥中,對含有不同比例損傷粒小麥的試驗,直接反映損傷粒對整批小麥品質(zhì)的影響。通過降落值測定儀進行完好顆粒含不同比例發(fā)芽粒降落值和完好顆粒含有不同比例重霉粒降落值的測定結(jié)果比較表明,降落值對反映不同含量的損傷粒對小麥品質(zhì)的影響的增加,小麥降落指數(shù)不斷下降。